Nickel-Plated Tungsten Carbide Needle for Semiconductor Testing

सेमीकंडक्टर परीक्षण के लिए निकल-प्लेटेड टंगस्टन कार्बाइड सुई

उत्पाद विवरण:
उत्पत्ति के प्लेस:	झूझोउ, चीन
ब्रांड नाम:	Sanxin
प्रमाणन:	ISO9001
मॉडल संख्या:	SX1407
भुगतान & नौवहन नियमों:
न्यूनतम आदेश मात्रा:	2
प्रसव के समय:	5-25 दिन
भुगतान शर्तें:	एल/सी, टी/टी, वेस्टर्न यूनियन

अब से संपर्क करें

विस्तार जानकारी
उत्पाद विवरण

विस्तार जानकारी
आइटम नाम:	टंगस्टन सुई	अक्षर:	पहनने-प्रतिरोध, जंग-रोधी
कठोरता:	एचआरए 90-92	फ़ायदा:	उच्च पहनने प्रतिरोध, लंबे जीवन
आकार:	नत्थी करना	कार्बाइड ग्रेड:	Yg6, Yg8, Yg10, आदि
सतह का उपचार:	अच्छी तरह से पिसा और पॉलिश किया हुआ	सेवा:	ODM,OEM,OEM&ODM
गुणवत्ता ग्रेड:	K30,YG10X,K40,P10...	मुख्य विशेषता:	टूट फुट प्रतिरोधी
सहनशीलता:	एच 6
प्रमुखता देना:	निकल-प्लेटेड टंगस्टन कार्बाइड सुई , सेमीकंडक्टर परीक्षण टंगस्टन पिन , वारंटी के साथ टंगस्टन कार्बाइड सुई

उत्पाद विवरण

माइक्रोन-ग्रेड कंडक्टिव पायनियर निकेल-प्लेटेड कस्टम टंगस्टन कार्बाइड सुई

इलेक्ट्रोप्लेटेड निकल परत के साथ सटीक जांच, 0.02Ω और एचवी 500 कठोरता कोटिंग के अल्ट्रा-कम संपर्क प्रतिरोध के साथ, साधारण सोना-प्लेटेड सुइयों के पहनने और ऑक्सीकरण के कष्ट बिंदुओं पर काबू पाती है, और सेमीकंडक्टर परीक्षण और चिकित्सा इलेक्ट्रोड के क्षेत्र में माइक्रोएम्पीयर-स्तर संकेतों के शून्य-क्षीणन संचरण को प्राप्त करती है।

स्पेक-मैट्रिक्स:

पैरामीटर	मानक मान	परम सटीकता	परीक्षण मानक
व्यास सीमा	Φ0.1-2.0मिमी	Φ0.05 मिमी (माइक्रोनीडल	लेजर व्यास गेज
कोटिंग की मोटाई	5±0.5μm	±0.2μm	एक्सआरएफ स्पेक्ट्रोमीटर
सीधा	≤0.003मिमी/30मिमी	0.001मिमी/30मिमी	वीडीआई 2617
कोटिंग कठोरता	एचवी500±50	नैनोइंडेंटर पूरी तरह से परीक्षण किया गया	आईएसओ 14577
संपर्क प्रतिरोध	0.02Ω±0.005Ω	चार-तार मापन	आईईसी 60512

नोट: उपरोक्त डेटा केवल संदर्भ के लिए है, कृपया अनुकूलन के लिए हमसे संपर्क करें।

प्रदर्शन लाभ:

- संपर्क प्रतिरोध: 0.02-0.05Ω (स्टेनलेस स्टील पिन से 90% कम)
- पहनने का जीवन: >1,000,000 प्लग-इन/प्लग चक्र
- संक्षारण प्रतिरोध: 96h नमक स्प्रे परीक्षण उत्तीर्ण

आवेदन पत्र:

सेमीकंडक्टर परीक्षण
- वेफर-स्तरीय जांच कार्ड (0.1 मिमी Φ माइक्रोनीडल ऐरे)
- बीजीए पैकेज परीक्षण (50μm पिच निरंतरता)
- तीसरी पीढ़ी का GaN सेमीकंडक्टर डिवाइस परीक्षण (400°C तक उच्च तापमान प्रतिरोध)

मेडिकल इलेक्ट्रॉनिक्स
- प्रत्यारोपण योग्य तंत्रिका इलेक्ट्रोड (जैव अनुकूलता प्रमाणित)
- रक्त ग्लूकोज मॉनिटर जांच (एंटीबॉडी संक्षारण प्रतिरोधी)
- एंडोस्कोप संपर्क (>500 बंध्याकरण चक्र)

परिशुद्धता उद्योग
- पीसीबी फ्लाइंग प्रोब परीक्षण (0.3 मिमी निरंतरता)
- नई ऊर्जा बैटरी जांच (इलेक्ट्रोलाइट संक्षारण प्रतिरोधी)
- माइक्रो कनेक्टर्स (सम्मिलन और निष्कासन बल ≤0.5N)

सेमीकंडक्टर परीक्षण के लिए निकल-प्लेटेड टंगस्टन कार्बाइड सुई 0